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Analytical electron microscopy, 1981 / Roy h. geiss, ed.

por Geiss, Roy H [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: San francisco, california : San Francisco, c1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 A53.

The application of electron microscopy to materials science : proceeding of an international workshop , held in China, Gauonzhou, august 1988 / edited K. H. Kuo

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Liechtenstern : Trans Tech Publications, [198-?]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC373.E4 A60.

Diffraction and imaging techniques in material science / Editors s. amelinckx, r. gevers, j. van landuyt

por Gevers, R [editor] | Landuyt J Van [editor] | Amelinckx, S [editor] | International Summer Course and Material Science (1969 : Antwerp, Nueva York).

Edición: 2 # rev. ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam, holanda : North-holland, 1978Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TA417.23 D52 1978, ...

Electron microscopy / papers presented at the 10th International Congress on Electron Microscopy, held in Hamburg, West Germany, August, 17-24, 1982 ; ed. the Congress Organizing Committee

por International Congress on Electron Microscopy (10 : 1982 : Hamburgo, Alemania del Oeste).

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Frankfurt, Main : Deutsche Gesellschaft fur Elektronenmikroskopie, [1982?]-Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (3)Clasificación: QH236 I57 1982, ...

Electron microscopy 1998 : Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy, Cancun, Mexico, 31 August to 4 September, 1998 = Electron microscopy 1998 : Memorias del 14to Congreso Internacional de Microscopia Electronica, Cancun, Mexico, del 31 de agosto al 4 de septiembre de 1998 / ed. by Hector A. Calderon Benavides and Miguel Jose Yacaman

por International Congress on Electron Microscopy (14 : 1998 : Cancun, Mexico) | Calderon Benavides, Hector [editor] | Yacaman, Miguel Jose [editor] | Institute of Physics (Gran Bretaña).

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Bristol : Institute of Physics, c1998-Otro título: Electron microscopy 1998 : Memorias del 14to Congreso Internacional de Microscopia Electronica, celebrado en Cancun, Mexico, del 31 de agosto al 4 de septiembre de 1998.Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (3)Clasificación: QH236 I57 1998, ...

High resolution electron microscopy of defects in materials : Symposium held april 16-18, 1990, san francisco, california, u.s.a. / Ed. Robert Sinclair, David j. Smith, ulrich dahmen

por Sinclair, Robert [editor] | Smith, David J, 1948- [editor] | Dahmen, Ulrich [editor].

Series Materials Research Society symposium proceedings ; v. 183Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Pittsburgh, pennsylvania : Materials research society, c1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 H54.

High resolution microscopy of materials : Sysmposium held november 29-december 1, 1988, boston, massachusetts, u. s. a. / Eds. William krakow, Fernando a. Ponce, David j. Smith

por Krakow, William [editor] | Ponce, Fernando A [editor] | Smith, David J, 1948- [editor].

Series Materials Research Society symposium proceedings ; v. 139Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Pittsburgh, pennsylvania : Materials research society, c1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 H54 1988.

Microscopy of semiconducting materials, 1987 : : proceedings of the Institute of Physics conference held at Oxford University, 6-8 April, 1987 / ed. by A. G. Cullis and P. D. Augustus

por Cullis, A. G [editor] | Augustus, P. D [editor] | Institute of Physics (Gran Bretaña).

Series Institute of Physics conference series ; no. 87Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Bristol : Institute of Physics, c1987Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC610.9 M53 1987.

Microscopy of semiconducting materials 1993 : / ed. by A.G. Cullis, A.E. Staton-Bevan, and J.L. Hutchison

por Cullis, A. G [editor] | Staton-Bevan, A. E [editor] | Hutchison, J. L [editor] | Institute of Physics (Gran Bretaña).

Series Institute of Physics conference series ; no. 134Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Philadelphia : Institute of Physics, 1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC610.9 M53 1993.

Proceedings : Twenty-fifth anniversary meeting electron microscopy society of america, chicago, illinois, augusto 29, 30, 31 and september 1, 1967 / Edited by claude j. arceneaux

por Meeting Electron Microscopy Society Of America, 25 Chicago, Illinois 1967 | Arceneaux, Claude J.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Baton rouge, la. : Claitor's, 1967Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 M45 1967.

Proceedings : Thirty-Eighth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, San Francisco, California, August 4-8, 1980 / ed. G. W. Bailey

por Electron Microscopy Society of America. Meeting (38 : 1980 : San Francisco, California) | Bailey, George W [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Baton Rouge, Louisiana : Claitor's, 1980Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E54 1980.

Proceedings : Thirty-Ninth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, Atlanta, Georgia, August 10-14, 1981 / ed. G. W. Bailey

por Electron Microscopy Society of America. Meeting (39 : 1981 : Atlanta, Georgia) | Bailey, George W [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: Baton Rouge, Louisiana : Claitor's, 1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E54 1981.

Proceedings : Forty-Third Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, Louisville, Kentucky, 5-9 August, 1985 / ed. G. W. Bailey

por Electron Microscopy Society of America. Meeting (43 : 1985 : Louisville, Kentucky) | Bailey, George W [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: San Francisco, California : San Francisco, 1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E54 1985.

Proceedings : Forty-Fourth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, Albuquerque, New Mexico, 10-15 August, 1986 / ed. G. W. Bailey

por Electron Microscopy Society of America. Meeting (44 : 1986 : Albuquerque, Nuevo Mexico) | Bailey, George W [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: San Francisco, California : San Francisco, 1986Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4 E54 1986.

Proceedings : Forty-Seventh Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America, San Antonio, Texas, 6-11 August, 1989 / ed. G. W. Bailey

por Electron Microscopy Society of America. Meeting (47 : 1989 : San Antonio, Texas) | Bailey, George W [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: San Francisco, California : San Francisco, 1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.E4 E54 1989, ...

Proceedings, fortieth Annual Meeting : Electron Microscopy Society of America : Washington, D.C., August 9-13, 1982 / edit. G. W. Bailey

por Electron Microscopy Society of America (40 : 1982 : Washington, D.C.) | Bailey, George W [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Baton Rouge, Louisiana : Claitor, 1982Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.E4 E54 1982, ...

Quantitative microbeam analysis : Proceedings of the fortieth scottish universities summer school in physics, dundee, august 1992. / Ed. by a. g. fitzgerald, b. e. storey, d. Fabián

por Scottish Universities Summer School In Physics (40 : 1992 : Dundee, Escocia) | Fitzgerald, A. G [editor] | Storey, B. E [editor] | Fabian, Derek J [editor] | Scottish Universities Summer School In Physics.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Editor: Bristol : Scottish universities summer school in physics : Institute of physics, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23 S36 1992.

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